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领先的电子元器件分销商 - 邦晶科技 | BonChip-BE70A高性能测试组件

SAMTEC

BE70A高性能测试组件

70 GHz,Bulls Eye®高性能测试组件

BE70A高性能测试组件

详细资讯

特点:

  • 112 Gbps PAM4 SerDes表征

  • 360° 接地(带线),弹簧加载端子

  • .086电缆

  • 1.85 mm仪表连接

  • 性能高达70 GHz

  • 单排或双排

  • 微带/CPW或带线PCB传输

  • 50欧姆阻抗

  • 替换电缆(BE70C系列)及区块(BE70B系列)可用

  • 本演示中通道二信号路径使用的是BE70A:结果显示112 Gbps PAM4数据运行几乎没有错误,e-11或更好,Pre-FEC

  • 224 Gbps PAM4 SerDes表征可能具有某些SI优化考量