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领先的电子元器件分销商 - 邦晶科技 | BonChip-BE40A高性能测试组件

SAMTEC

BE40A高性能测试组件

50 GHz,Bulls Eye®高性能测试组件

BE40A高性能测试组件

详细资讯

特点:

  • 56 Gbps PAM4 SerDes表征

  • 增强系统设计,配有信号及弹簧顶针

  • 2.40 mm (50 GHz) 或2.92 mm (40 GHz) 仪表连接

  • 性能高达50 GHz

  • 双排

  • 微带/CPW或带线PCB传输

  • 50欧姆阻抗

  • 23 AWG配有铜制外壳的固体介质低损耗微波电缆

  • 替换电缆(BE40C系列)及区块(BE40B系列)可用